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Planum-3000平面光學元件光譜分析儀
全自動透光率/反射率分析儀
型號：Planum-3000
用途：用于各類平面光學元件的反射、透射光譜快速測量�？蛇M行多角度相對/絕對
反射率、透過率測量，偏振光測量，膜性測量。
Planum-3000平面光學元件光譜分析儀-適宜測量范圍：棱鏡、平行平板、鏡面等平面光學性能。
操作軟件界面
平面光學元件光譜分析儀的技術參數：
| 型號 |
Planum-3000（Ⅰ型） |
Planum-3000（Ⅲ型） |
| 探測器 |
Sony線形CCD 陣列 |
Hamamatsu背照式2D-CCD |
| 檢測范圍 |
380-1000nm |
360-1100nm |
| 波長分辨率 |
1nm |
1nm |
| 信噪比（全信號） |
250:1 |
1000:1 |
| 相對檢測誤差 |
﹤1%（400-800nm） |
﹤0.2%（400-800nm） |
| 重復定位精度 |
﹤0.005° |
| 透射測量角度 |
0-80°（小樣品0-50°） |
| 反射測量角度 |
10-80°（可擴展到5°） |
| 樣品尺寸 |
﹥Φ5mm |
| 單次測量時間 |
<1ms |
| S/P光測量 |
支持 |
| 其他 |
可自定義打印報告格式，開放式光學材料數據庫 |
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