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    QSpec科思凱系列>> 透過反射率測試儀>>Sphere-3000光學元件反射率測量儀  

    Sphere-3000 光學元件反射率測量儀

     

    Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀,能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/絕對反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。

     

    Sphere3000光學元件反射率測量儀-特點:

    Ø         顯微測定微小領域的反射率  物鏡對焦于被測物微小區域(φ60μm

    Ø         CIE顏色測定  X Y色度圖,x, y, L, a, b, 飽和度,主波長等

    Ø         檢測速度快  高性能探測器,能在幾秒內實現重現性高的測定

    Ø         消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率

     

    Sphere3000光學元件反射率測量儀-技術參數

    型號

    Sphere-3000I型)

    Sphere-3000III型)

    檢測范圍

    380~800nm

    360~1100nm

    波長分辨率

    1nm

    1nm

    相對檢測誤差

    1%

    0.5%

    測定方法

    與標準物比較測定

    被測物再現性

    ±0.1%以下(2σ)        380nm~410nm                                                    ±0.05%以下(2σ)      (410nm~800nm)

    ±0.1%以下(2σ)

    (380nm~410nm)                                                    ±0.05%以下(2σ)

              (410nm~1100nm)

    單次測量時間

    1s

    精度

    0.3nm

    被測物N.A.

    0.12(使用10×對物鏡時)                                                                                  0.24(使用20×對物鏡時)                                                                                   

    被測物尺寸

    直徑>1mm

    厚度>1mm(使用10×對物鏡時)

    厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時)

    被測物

    測定范圍

    φ60μm(使用10×對物鏡時)                                                                            φ30μm(使用20×對物鏡時)

    設備重量

    15kg(光源內置)

    設備尺寸

    300(W)×550(D)×570(H)mm

    使用環境

     水平且無振動的場所

    溫度:23±5;

            濕度:60%以下、無結露;

    操作系統

    Windows XP, Windows Vista,Win7

    軟件

    分光反射率、物體顏色、單層膜厚(有干涉條紋)和鍍膜(有干涉條紋)折射率測定

    尺寸

    480*400*580mm

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